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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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　■　2023年特許取得件数ランキング　　　第345位　92件（2022年：第335位　90件）

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2023-546333	高流量真空チャック	2023年11月 2日
特開 2023-159191	ランプハウス補正を備えるプラズマ源のシステム及び方法	2023年10月31日
特表 2023-544761	機械学習ベースの測定レシピ最適化の動的制御	2023年10月25日
特表 2023-544498	欠陥検査向けレーザパワー制御を伴う大粒子監視	2023年10月24日
特表 2023-544502	可解釈な深層学習ベース欠陥検出及び分類	2023年10月24日
特表 2023-544534	半導体測定の品質を決定するための方法およびシステム	2023年10月24日
特表 2023-544275	検査および他のプロセスのための試料の位置合わせ	2023年10月23日
特表 2023-544388	画像ベースのオーバレイ計測においてターゲット特徴焦点を決定するためのシステムおよび方法	2023年10月23日
特表 2023-543981	半導体ウェハ計測における測定位置を決定するためのシステムおよび方法	2023年10月19日
特表 2023-543314	サンプル位置決めシステム及び方法	2023年10月13日
特表 2023-541837	磁気液浸電子銃	2023年10月 4日
特開 2023-138870	テレセントリック照明を有するマルチビーム電子特性評価ツール	2023年10月 2日
特表 2023-541394	位置ずれの散乱計測による単一波長測定およびその改良のためのシステムおよび方法	2023年10月 2日
特表 2023-540747	三次元ウェハ構造向けビニング増強欠陥検出方法	2023年 9月26日
特表 2023-540529	マイクロ電子デバイス製造中に物理的シミュレーションモデルを加速するシステムおよび方法	2023年 9月25日

104 件中 16-30 件を表示

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2023-546333 2023-159191 2023-544761 2023-544498 2023-544502 2023-544534 2023-544275 2023-544388 2023-543981 2023-543314 2023-541837 2023-138870 2023-541394 2023-540747 2023-540529

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