特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2023年出願公開件数ランキング　　　第332位　104件（2022年：第296位　118件）

　■　2023年特許取得件数ランキング　　　第345位　92件（2022年：第335位　90件）

（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2024年 2025年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2023-522847	半導体デバイスの位置ずれを計測する際役立つデバイス規模フィーチャを有する位置ずれターゲット	2023年 6月 1日
特表 2023-522718	試験サンプルの温度変調特性の測定	2023年 5月31日
特開 2023-75201	粒子検出のためのシステム及び方法	2023年 5月30日
特表 2023-521988	３Ｄデバイスの検査およびレビューのための電子ビームシステム	2023年 5月26日
特表 2023-521622	液体窒素のための自己整列式真空フィードスルー	2023年 5月25日
特表 2023-521743	裏面照射型センサおよびシリコンオンインシュレータウエハを使用するセンサの製造方法	2023年 5月25日
特表 2023-520921	ガス渦流を有するレーザ強化プラズマ光源	2023年 5月22日
特表 2023-518458	標本走査のためのフォーカス設定の決定	2023年 5月 1日
特開 2023-58479	光計測において照明を提供するためのシステム	2023年 4月25日
特表 2023-516791	アレイ化カラム検出器	2023年 4月20日
特開 2023-54305	検査システムにおける輻射誘起性偽カウントを低減するシステム	2023年 4月13日
特表 2023-515470	Ｘ線ベースの計測のためのウェハ傾斜の測定及び制御	2023年 4月13日
特表 2023-515487	フレキシブル回路から作成された電磁コイル	2023年 4月13日
特表 2023-515488	ＥＵＶ検査用ビーム安定化兼基準補正方法及び装置	2023年 4月13日
特開 2023-52295	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2023年 4月11日

104 件中 61-75 件を表示

... 5

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2023-522847 2023-522718 2023-75201 2023-521988 2023-521622 2023-521743 2023-520921 2023-518458 2023-58479 2023-516791 2023-54305 2023-515470 2023-515487 2023-515488 2023-52295

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数