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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2023-522847	半導体デバイスの位置ずれを計測する際役立つデバイス規模フィーチャを有する位置ずれターゲット	2023年 6月 1日
特表 2023-522718	試験サンプルの温度変調特性の測定	2023年 5月31日
特開 2023-75201	粒子検出のためのシステム及び方法	2023年 5月30日
特表 2023-521988	３Ｄデバイスの検査およびレビューのための電子ビームシステム	2023年 5月26日
特表 2023-521622	液体窒素のための自己整列式真空フィードスルー	2023年 5月25日
特表 2023-521743	裏面照射型センサおよびシリコンオンインシュレータウエハを使用するセンサの製造方法	2023年 5月25日
特表 2023-520921	ガス渦流を有するレーザ強化プラズマ光源	2023年 5月22日
特表 2023-518458	標本走査のためのフォーカス設定の決定	2023年 5月 1日
特開 2023-58479	光計測において照明を提供するためのシステム	2023年 4月25日
特表 2023-516791	アレイ化カラム検出器	2023年 4月20日
特開 2023-54305	検査システムにおける輻射誘起性偽カウントを低減するシステム	2023年 4月13日
特表 2023-515470	Ｘ線ベースの計測のためのウェハ傾斜の測定及び制御	2023年 4月13日
特表 2023-515487	フレキシブル回路から作成された電磁コイル	2023年 4月13日
特表 2023-515488	ＥＵＶ検査用ビーム安定化兼基準補正方法及び装置	2023年 4月13日
特開 2023-52295	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2023年 4月11日

104 件中 61-75 件を表示

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2023-522847 2023-522718 2023-75201 2023-521988 2023-521622 2023-521743 2023-520921 2023-518458 2023-58479 2023-516791 2023-54305 2023-515470 2023-515487 2023-515488 2023-52295

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