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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7542561	位置ずれの測定およびその改善のための関心領域の選択	2024年 8月30日
特許 7539467	計測ランドスケープに基づく計測最適化のためのシステムおよび方法	2024年 8月23日
特許 7538881	液体窒素のための自己整列式真空フィードスルー	2024年 8月22日
特許 7535115	軟Ｘ線スキャタロメトリに依拠するオーバレイ計測方法及びシステム	2024年 8月15日
特許 7530920	テスト用フォトマスクを用いるＴＤＩイメージセンサ向けＥＵＶインサイチュー直線性校正	2024年 8月 8日
特許 7531030	オーバレイ計測システム及び方法	2024年 8月 8日
特許 7527400	オーバーレイ計測ツールおよび方法	2024年 8月 2日
特許 7525735	磁気液浸電子銃	2024年 7月30日
特許 7523682	半導体デバイス製造方法及び半導体製造アセンブリ用プロセス制御システム	2024年 7月26日
特許 7520058	マルチステージマルチゾーン基板位置決めシステム	2024年 7月22日
特許 7508659	空間的に変化する偏光回転子および偏光子を用いた高感度粒子検出	2024年 7月 1日
特許 7506756	位置ずれ測定値に対するウェハ傾斜の影響の補正のためのシステムおよび方法	2024年 6月26日
特許 7503140	高圧流れを有するレーザ維持プラズマ光源	2024年 6月19日
特許 7502389	試料の欠陥検出及び光ルミネセンス測定のためのシステム及び方法	2024年 6月18日
特許 7502530	ターゲット	2024年 6月18日

108 件中 46-60 件を表示

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7542561 7539467 7538881 7535115 7530920 7531030 7527400 7525735 7523682 7520058 7508659 7506756 7503140 7502389 7502530

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