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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7500694	計測ターゲット設計の方法、計測モジュール、及び計測ターゲットの製造方法	2024年 6月17日
特許 7498771	プラズモニック光電陰極放出器	2024年 6月12日
特許 7498856	位置ずれの散乱計測による単一波長測定およびその改良のためのシステムおよび方法	2024年 6月12日
特許 7490762	計測のための信号－領域適応	2024年 5月27日
特許 7490094	機械学習を用いた半導体オーバーレイ測定	2024年 5月24日
特許 7489404	光学被覆材料としての四ホウ酸ストロンチウム	2024年 5月23日
特許 7489508	検査システムにおける輻射誘起性偽カウントを低減するシステム	2024年 5月23日
特許 7486621	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2024年 5月17日
特許 7483761	光源のキャビティの圧力制御	2024年 5月15日
特許 7482981	光計測において照明を提供するためのシステム	2024年 5月14日
特許 7483021	マルチ電子ビームシステム用のマイクロスティグマトールアレイ	2024年 5月14日
特許 7482193	広帯域レーザ産生プラズマイルミネータを有するＸ線計量システム及び方法	2024年 5月13日
特許 7478738	計測システム及び方法	2024年 5月 7日
特許 7477564	ホットスポット及びプロセスウィンドウ監視装置	2024年 5月 1日
特許 7470827	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2024年 4月18日

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7500694 7498771 7498856 7490762 7490094 7489404 7489508 7486621 7483761 7482981 7483021 7482193 7478738 7477564 7470827

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