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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7470120	電圧コントラストウェーハ検査におけるフラッド帯電及び像形成のための共同電子光学カラム	2024年 4月17日
特許 7464794	サンプル位置決めシステム及び方法	2024年 4月 9日
特許 7462639	システム応答のリアルタイム検出及び補正	2024年 4月 5日
特許 7462095	半導体デバイスの側面の検査装置	2024年 4月 4日
特許 7461370	撓んだ半導体ウェハを平坦化する真空押え付け装置	2024年 4月 3日
特許 7460775	高度なインライン部品平均試験	2024年 4月 2日
特許 7455115	プロセス条件計測ウェハアセンブリ	2024年 3月25日
特許 7454620	ダイ・ダイ検査用適応性ケアエリア	2024年 3月22日
特許 7454656	レーザ維持プラズマ照射源用の回転ランプ	2024年 3月22日
特許 7451687	オーバレイ計測用格子ターゲット構造の暗視野イメージング	2024年 3月18日
特許 7451704	レーザ周波数シフトによる高速位相シフト干渉法	2024年 3月18日
特許 7451737	ＥＵＶ検査用ビーム安定化兼基準補正方法及び装置	2024年 3月18日
特許 7446314	ＥＵＶ光学系用硼素ベースキャッピング層	2024年 3月 8日
特許 7446447	複合的オーバレイ計測ターゲット	2024年 3月 8日
特許 7445749	イメージングベースのオーバレイ測定の品質指標として高調波検出率を適用するためのシステムと方法	2024年 3月 7日

108 件中 76-90 件を表示

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7470120 7464794 7462639 7462095 7461370 7460775 7455115 7454620 7454656 7451687 7451704 7451737 7446314 7446447 7445749

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