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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7440580	レチクルを検査する装置および方法	2024年 2月28日
特許 7438424	粒子検出のためのシステム及び方法	2024年 2月26日
特許 7432623	広帯域紫外照明源	2024年 2月16日
特許 7432759	電子ビーム検査システム	2024年 2月16日
特許 7431824	スキャトロメトリオーバーレイ（ＳＣＯＬ）測定方法及びＳＣＯＬ測定システム	2024年 2月15日
特許 7431969	簡略化モデルを用いるトモグラフィ依拠半導体計測	2024年 2月15日
特許 7429775	フォトマスク検査における焦点マップ生成のための広帯域光干渉法	2024年 2月 8日
特許 7429287	光変調式電子源	2024年 2月 7日
特許 7427763	光学的表面欠陥物質特性評価のための方法およびシステム	2024年 2月 5日
特許 7427772	波長分解軟Ｘ線反射率測定に基づく半導体計測のための方法及びシステム	2024年 2月 5日
特許 7423618	透明フィルムの頂面での正確な光トポグラフィ測定のための除去可能な不透明コーティング	2024年 1月29日
特許 7422208	モデルベースの限界寸法測定の方法およびシステム	2024年 1月25日
特許 7412548	極端紫外線パターンマスクの印刷可能な欠陥を減少させるためのシステムと方法	2024年 1月12日
特許 7412559	確率的ドメイン知識に基づく計測レシピ最適化及び物理的実現	2024年 1月12日
特許 7411683	光学計測のための高輝度の照明源	2024年 1月11日

108 件中 91-105 件を表示

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7440580 7438424 7432623 7432759 7431824 7431969 7429775 7429287 7427763 7427772 7423618 7422208 7412548 7412559 7411683

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