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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2025年1月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7529592 | 画像診断支援装置、画像診断支援方法、遠隔診断支援システム、ネット受託サービスシステム | 2024年 8月 6日 | |
| 特許 7527900 | 自動分析装置および検体情報作成方法 | 2024年 8月 5日 | |
| 特許 7528375 | プラズマ処理方法 | 2024年 8月 5日 | |
| 特許 7527247 | 撮像装置 | 2024年 8月 2日 | |
| 特許 7527461 | 画像を生成するシステム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 | 2024年 8月 2日 | |
| 特許 7526681 | 採血装置 | 2024年 8月 1日 | |
| 特許 7526818 | サーマルサイクラ、及び遺伝子検査装置 | 2024年 8月 1日 | |
| 特許 7526824 | ラメラの搭載方法および解析システム | 2024年 8月 1日 | |
| 特許 7526887 | 自動分析装置 | 2024年 8月 1日 | |
| 特許 7523553 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2024年 7月26日 | |
| 特許 7522835 | 自動分析装置、および自動分析装置における試薬登録方法 | 2024年 7月25日 | |
| 特許 7522313 | 粒子解析装置および粒子解析方法 | 2024年 7月24日 | |
| 特許 7520781 | 荷電粒子ビーム走査モジュール、荷電粒子ビーム装置およびコンピュータ | 2024年 7月23日 | |
| 特許 7520824 | 自動分析装置の前処理方法 | 2024年 7月23日 | |
| 特許 7519442 | 直流高電圧源装置および荷電粒子ビーム装置 | 2024年 7月19日 |
371 件中 151-165 件を表示
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7529592 7527900 7528375 7527247 7527461 7526681 7526818 7526824 7526887 7523553 7522835 7522313 7520781 7520824 7519442
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