ホーム > 特許ランキング > エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. > 2024年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ.)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2024年 出願公開件数ランキング 第220位 162件
(2023年:第242位 151件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第257位 124件
(2023年:第238位 146件)
(ランキング更新日:2025年9月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7519455 | 信号電子検出のためのシステム及び方法 | 2024年 7月19日 | |
特許 7519465 | 高さ測定方法及び高さ測定システム | 2024年 7月19日 | |
特許 7518238 | サンプリングスキームを決定する方法、半導体基板測定装置、リソグラフィ装置 | 2024年 7月17日 | |
特許 7516366 | 電磁複合レンズ及びそのようなレンズを備えた荷電粒子光学システム | 2024年 7月16日 | |
特許 7516370 | メンブレンクリーニング装置 | 2024年 7月16日 | |
特許 7515524 | 基板形状測定デバイス | 2024年 7月12日 | |
特許 7515626 | 収差影響システム、モデル、及び製造プロセス | 2024年 7月12日 | |
特許 7515635 | 荷電粒子マルチビーム評価ツールで使用される検出器基板 | 2024年 7月12日 | |
特許 7514338 | 広帯域放射を発生させるための方法並びに関連する広帯域源及びメトロロジデバイス | 2024年 7月10日 | |
特許 7512403 | 荷電粒子システムにおける高スループット欠陥検査のためのシステム及び方法 | 2024年 7月 8日 | |
特許 7511002 | 流体ハンドリングシステム及びリソグラフィ装置 | 2024年 7月 4日 | |
特許 7511033 | メトロロジ方法及び装置並びにコンピュータプログラム | 2024年 7月 4日 | |
特許 7509969 | マスクアセンブリ | 2024年 7月 2日 | |
特許 7507763 | サンプルをスキャンするための荷電粒子ビームシステム | 2024年 6月28日 | |
特許 7507815 | 荷電粒子マルチビームレットリソグラフィーシステムを使用し、一意的チップを製作するための方法及びシステム | 2024年 6月28日 |
128 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7519455 7519465 7518238 7516366 7516370 7515524 7515626 7515635 7514338 7512403 7511002 7511033 7509969 7507763 7507815
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ.の知財の動向チェックに便利です。
9月17日(水) -
9月17日(水) - 東京 港区
AI時代の知財実務と戦略を再構築するための視座 ~調査・出願を効率化するプロンプト実例と、ソフトバンクに学ぶ組織的対応~
9月17日(水) - 東京 港区
9月17日(水) -
9月17日(水) -
9月18日(木) -
9月18日(木) -
9月19日(金) - 東京 千代田区
9月19日(金) - 東京 千代田区
9月19日(金) -
9月19日(金) - 大阪 大阪市
9月19日(金) -
9月19日(金) -
9月17日(水) -
9月24日(水) -
9月24日(水) -
9月25日(木) -
9月25日(木) -
9月25日(木) -
9月25日(木) -
最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
9月25日(木) -
9月25日(木) -
9月25日(木) -
9月26日(金) - 神奈川 横浜市
9月26日(金) -
9月26日(金) -
9月26日(金) -
9月24日(水) -
【大阪本社】 〒534-0024 大阪府大阪市都島区東野田町1-20-5 大阪京橋ビル4階 【東京支部】 〒150-0013 東京都港区浜松町2丁目2番15号 浜松町ダイヤビル2F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟
〒210-0024 神奈川県川崎市川崎区日進町3-4 unicoA 303 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階(旧横山ビル) http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング