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株式会社ニューフレアテクノロジー
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第450位 88件
（
2016年：第354位 106件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第453位 58件
（
2016年：第493位 56件）
（ランキング更新日：2025年5月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6153401 | 気相成長装置および気相成長方法 | 2017年 6月28日 | |
| 特許 6155044 | 電子ビーム描画装置および電子ビーム描画方法 | 2017年 6月28日 | |
| 特許 6151080 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6152281 | パターン検査方法及びパターン検査装置 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6147528 | マルチ荷電粒子ビーム描画方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6147642 | マルチ荷電粒子ビームのブランキング装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6148970 | 荷電粒子ビーム描画方法 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6138568 | 荷電粒子ビーム描画装置、フォーマット検査装置及びフォーマット検査方法 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6132658 | 検査感度評価方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134522 | 気相成長装置および気相成長方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134565 | 検査方法および検査装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6118142 | 電子銃装置、描画装置、電子銃電源回路のリーク電流測定方法、及び電子銃電源回路のリーク電流判定方法 | 2017年 4月19日 | |
| 特許 6114129 | パーティクル測定方法 | 2017年 4月12日 | |
| 特許 6109657 | 気相成長装置および気相成長方法 | 2017年 4月 5日 | |
| 特許 6110685 | 荷電粒子ビーム描画装置、及びバッファメモリのデータ格納方法 | 2017年 4月 5日 |
59 件中 31-45 件を表示
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6153401 6155044 6151080 6152281 6147528 6147642 6148970 6138568 6132658 6134522 6134565 6118142 6114129 6109657 6110685
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