ホーム > 特許ランキング > 株式会社ニューフレアテクノロジー > 2017年 > 特許一覧
株式会社ニューフレアテクノロジー
※ ログインすれば出願人(株式会社ニューフレアテクノロジー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2017年 出願公開件数ランキング 第450位 88件
（
2016年：第354位 106件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第453位 58件
（
2016年：第493位 56件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6153401 | 気相成長装置および気相成長方法 | 2017年 6月28日 | |
| 特許 6155044 | 電子ビーム描画装置および電子ビーム描画方法 | 2017年 6月28日 | |
| 特許 6151080 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6152281 | パターン検査方法及びパターン検査装置 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6147528 | マルチ荷電粒子ビーム描画方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6147642 | マルチ荷電粒子ビームのブランキング装置 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6148970 | 荷電粒子ビーム描画方法 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6138568 | 荷電粒子ビーム描画装置、フォーマット検査装置及びフォーマット検査方法 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6132658 | 検査感度評価方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134522 | 気相成長装置および気相成長方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6134565 | 検査方法および検査装置 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6118142 | 電子銃装置、描画装置、電子銃電源回路のリーク電流測定方法、及び電子銃電源回路のリーク電流判定方法 | 2017年 4月19日 | |
| 特許 6114129 | パーティクル測定方法 | 2017年 4月12日 | |
| 特許 6109657 | 気相成長装置および気相成長方法 | 2017年 4月 5日 | |
| 特許 6110685 | 荷電粒子ビーム描画装置、及びバッファメモリのデータ格納方法 | 2017年 4月 5日 |
59 件中 31-45 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6153401 6155044 6151080 6152281 6147528 6147642 6148970 6138568 6132658 6134522 6134565 6118142 6114129 6109657 6110685
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニューフレアテクノロジーの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
4月15日(火) -
4月15日(火) - 大阪 大阪市
4月15日(火) -
4月16日(水) - 東京 大田
4月16日(水) -
4月16日(水) -
4月16日(水) -
4月16日(水) -
4月17日(木) - 東京 大田
4月17日(木) -
4月17日(木) -
4月18日(金) -
4月18日(金) -
4月18日(金) - 北海道 千代田区
4月15日(火) -
4月21日(月) -
4月22日(火) -
4月22日(火) -
4月22日(火) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) - 東京 千代田区
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月24日(木) - 東京 港区
4月24日(木) -
4月24日(木) -
4月25日(金) -
4月21日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒170-0013 東京都豊島区東池袋3丁目9-10 池袋FNビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0061 東京都中央区銀座1-8-2 銀座プルミエビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区北青山2丁目7番20号 第二猪瀬ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
