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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第386位 87件
(2022年:第428位 76件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第364位 86件
(2022年:第392位 75件)
(ランキング更新日:2025年2月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7218830 | 両面研磨装置及び両面研磨方法 | 2023年 2月 7日 | |
特許 7218832 | ヘテロエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2023年 2月 7日 | |
特許 7218340 | 検査装置及び検査方法 | 2023年 2月 6日 | |
特許 7215630 | 窒化物半導体基板及びその製造方法 | 2023年 1月31日 | |
特許 7211343 | 不純物分析方法及びシリコン単結晶の製造方法 | 2023年 1月24日 | |
特許 7207204 | 炭素ドープシリコン単結晶ウェーハの製造方法 | 2023年 1月18日 | |
特許 7207214 | 抵抗率測定装置の管理方法 | 2023年 1月18日 | |
特許 7207588 | III族窒化物半導体ウエーハ及びその製造方法 | 2023年 1月18日 | |
特許 7205391 | 抵抗率測定装置の管理方法 | 2023年 1月17日 | |
特許 7200834 | 搬送システム | 2023年 1月10日 | |
特許 7200917 | シリコンウェーハの欠陥評価方法 | 2023年 1月10日 | |
特許 7201117 | 研磨用組成物、シリコンウェーハの研磨方法、及び研磨装置 | 2023年 1月10日 |
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7218830 7218832 7218340 7215630 7211343 7207204 7207214 7207588 7205391 7200834 7200917 7201117
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
2月25日(火) -
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