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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2021年 出願公開件数ランキング    第424位 82件 下降2020年:第364位 101件)

  2021年 特許取得件数ランキング    第239位 120件 上昇2020年:第314位 86件)

(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6827427 ホウ素層付のシリコン基板上にフィールドエミッタアレイが備わるフォトカソード 2021年 2月10日
特許 6827466 補助電磁場の導入に基づく1次スキャトロメトリオーバーレイでの新たなアプローチ 2021年 2月10日
特許 6826121 外れ値検出を通じた特徴選択及び自動処理窓監視 2021年 2月 3日
特許 6826218 電子衝撃検出器を動作させる方法 2021年 2月 3日
特許 6821700 小スポットサイズ透過型小角X線スキャタロメトリ用ビーム整形スリット 2021年 1月27日
特許 6814733 自動化された判定に基づくエネルギー分散型X線測定法及びその装置 2021年 1月20日
特許 6814796 マルチビーム暗視野撮像 2021年 1月20日
特許 6815401 高アスペクト比構造向けX線スキャタロメトリ計量 2021年 1月20日
特許 6816192 深紫外線連続波レーザー、システム、及び方法 2021年 1月20日
特許 6811174 自動式パターン忠実度測定計画生成 2021年 1月13日
特許 6807324 検査ツールの検査感度を高めるシステム及び方法 2021年 1月 6日
特許 6807829 暗視野および位相コントラストの同時検査のためのシステムおよび方法 2021年 1月 6日
特許 6807844 ビルトインターゲットを用いた検査対デザイン位置揃え 2021年 1月 6日
特許 6807865 計量システムにおける計量データのフィードフォワード 2021年 1月 6日
特許 6807897 レーザのスペクトル帯域幅の低減 2021年 1月 6日

120 件中 106-120 件を表示

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6827427 6827466 6826121 6826218 6821700 6814733 6814796 6815401 6816192 6811174 6807324 6807829 6807844 6807865 6807897

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