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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-38080	検査システム	2024年 3月19日
特表 2024-511717	マルチフィールド走査オーバレイ計測	2024年 3月15日
特表 2024-510874	回転運動、真空シール、および圧力シールのための垂直回旋金属ベローズ	2024年 3月12日
特表 2024-511008	ダイスクリーニングシステムおよび方法	2024年 3月12日
特表 2024-510372	短波赤外線波長を使用する光学計量	2024年 3月 7日
特表 2024-509684	半導体ダイパッケージの信頼性を評価するためのシステムおよび方法	2024年 3月 5日
特開 2024-28323	供試標本の電気特性を計測する方法及び多層供試標本	2024年 3月 4日
特開 2024-26162	真空チャンバ内への光ファイバ使用光送給	2024年 2月28日
特開 2024-26532	検査システム及び方法	2024年 2月28日
特開 2024-26780	個片化半導体デバイスの欠陥検出装置	2024年 2月28日
特表 2024-508638	製造設備における機器のセキュア遠隔コラボレーション	2024年 2月28日
特表 2024-508382	感受性粒子を検出するための連続縮退楕円リターダ	2024年 2月27日
特表 2024-508231	高解像度の３次元撮像	2024年 2月26日
特表 2024-508233	プラズマ原子層堆積を用い堆積された硼素層を有する裏面照明型センサ	2024年 2月26日
特開 2024-23684	電子ビーム検査システム及び方法	2024年 2月21日

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2024-38080 2024-511717 2024-510874 2024-511008 2024-510372 2024-509684 2024-28323 2024-26162 2024-26532 2024-26780 2024-508638 2024-508382 2024-508231 2024-508233 2024-23684

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