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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2024-524856	試料の検査のためのケア領域の設定	2024年 7月 9日
特表 2024-523958	パターンウエハ形状測定上の検出支援２段階位相アンラッピング	2024年 7月 5日
特開 2024-88667	電子ビーム計測の系統誤差低減方法及びシステム	2024年 7月 2日
特開 2024-88743	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2024年 7月 2日
特表 2024-523095	鉄トライアド金属及びその合金の電着溶液中のハロゲン化物濃度を測定及び監視するための無試薬方法及びプロセス制御	2024年 6月28日
特表 2024-523051	極端紫外線検査システムにおける汚染を軽減するための対向流ガスノズル	2024年 6月26日
特表 2024-522044	二次電子および後方散乱電子を検出するためのスルーホールを備えた分割型マルチチャンネル裏面照射型ソリッドステート検出器	2024年 6月11日
特表 2024-522045	画像アップサンプリングを伴う光学的ウェハ特性評価のシステムおよび方法	2024年 6月11日
特開 2024-74838	オーバレイ計量の性能拡張	2024年 5月31日
特表 2024-521276	高圧レーザー維持プラズマランプの製造方法	2024年 5月31日
特開 2024-69374	計測システム及び計測方法	2024年 5月21日
特表 2024-519645	高抵抗率試験試料を測定する方法	2024年 5月21日
特表 2024-519648	インライン欠陥部分平均試験を使用する適応的半導体試験のためのシステムおよび方法	2024年 5月21日
特表 2024-519569	検査ツールにおける側方剪断干渉測定のシステムおよび方法	2024年 5月17日
特表 2024-518226	マルチ分解能オーバーレイ計測ターゲット	2024年 5月 1日

100 件中 46-60 件を表示

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2024-524856 2024-523958 2024-88667 2024-88743 2024-523095 2024-523051 2024-522044 2024-522045 2024-74838 2024-521276 2024-69374 2024-519645 2024-519648 2024-519569 2024-518226

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