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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第298位　86件（2023年：第345位　92件）

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2024-508638	製造設備における機器のセキュア遠隔コラボレーション	2024年 2月28日
特表 2024-508382	感受性粒子を検出するための連続縮退楕円リターダ	2024年 2月27日
特表 2024-508231	高解像度の３次元撮像	2024年 2月26日
特表 2024-508233	プラズマ原子層堆積を用い堆積された硼素層を有する裏面照明型センサ	2024年 2月26日
特開 2024-23684	電子ビーム検査システム及び方法	2024年 2月21日
特開 2024-20433	光学計測のための高輝度の照明源	2024年 2月14日
特表 2024-506404	ＥＵＶマスク検査のための方法および装置	2024年 2月13日
特開 2024-19566	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2024年 2月 9日
特表 2024-506143	デュアル真空シール	2024年 2月 9日
特開 2024-19227	プロセス条件計測ウェハアセンブリ向けのシステム及び方法	2024年 2月 8日
特表 2024-505926	デュアルアパーチャ方式の高解像度電子ビーム装置	2024年 2月 8日
特表 2024-505941	歪んだ形状を有する深部構造の正確な測定のための方法およびシステム	2024年 2月 8日
特表 2024-505557	補正板を使用した光学システムの収差及びアポダイゼーションの補正	2024年 2月 6日
特表 2024-503371	プロセス条件検知装置	2024年 1月25日
特表 2024-502549	広帯域光の連続生成のためのレーザおよびドラム制御	2024年 1月22日

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2024-508638 2024-508382 2024-508231 2024-508233 2024-23684 2024-20433 2024-506404 2024-19566 2024-506143 2024-19227 2024-505926 2024-505941 2024-505557 2024-503371 2024-502549

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