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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第219位 146件 (2023年:第242位 151件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第249位 117件 (2023年:第238位 146件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2024-91652 | 放射源、リソグラフィシステム及び検査システム | 2024年 7月 5日 | |
特表 2024-523806 | 荷電粒子装置及び方法 | 2024年 7月 2日 | |
特表 2024-523820 | 電極歪の影響を補償する方法、評価システム | 2024年 7月 2日 | |
特表 2024-523874 | レチクルのための冷却フード | 2024年 7月 2日 | |
特表 2024-523579 | 半導体製造に関連する変動源をデカップリングするための方法 | 2024年 6月28日 | |
特開 2024-85420 | マルチステッププロセス検査方法 | 2024年 6月26日 | |
特開 2024-84743 | 荷電粒子装置用の交換可能モジュール | 2024年 6月25日 | |
特開 2024-83433 | 薄膜アセンブリを製造する方法 | 2024年 6月21日 | |
特表 2024-522605 | 検査データフィルタリングのシステム及び方法 | 2024年 6月21日 | |
特開 2024-79710 | マルチビームSEMツール用の自己参照型健全度監視システム | 2024年 6月11日 | |
特開 2024-79725 | 荷電粒子検査ツール、検査方法 | 2024年 6月11日 | |
特表 2024-522053 | データ処理デバイス及び方法、荷電粒子評価システム及び方法 | 2024年 6月11日 | |
特表 2024-521551 | モジュール式ウェーハテーブル及びその製造方法 | 2024年 6月 3日 | |
特表 2024-521436 | アパーチャアポダイゼーションを備えた構造照明を使用したレチクル粒子検出用の検査システム | 2024年 5月31日 | |
特表 2024-520289 | 極紫外線フォトリソグラフィ用途のためのハイブリッドフォトレジスト組成物 | 2024年 5月24日 |
148 件中 76-90 件を表示
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2024-91652 2024-523806 2024-523820 2024-523874 2024-523579 2024-85420 2024-84743 2024-83433 2024-522605 2024-79710 2024-79725 2024-522053 2024-521551 2024-521436 2024-520289
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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