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株式会社SUMCO

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  2024年 出願公開件数ランキング    第435位 71件 上昇2023年:第512位 61件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第402位 73件 下降2023年:第372位 84件)

(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7487659 SOIウェーハの製造方法 2024年 5月21日
特許 7480699 多結晶ダイヤモンド自立基板を用いた積層基板及びその製造方法 2024年 5月10日
特許 7471575 試料導入装置、誘導結合プラズマ分析装置および分析方法 2024年 4月22日
特許 7471576 試料導入装置、誘導結合プラズマ分析装置および分析方法 2024年 4月22日
特許 7468339 単結晶引上げ装置の部品の清掃時に用いる集塵装置及び単結晶引上げ装置の部品の清掃方法 2024年 4月16日
特許 7463982 ウェーハ収納容器の洗浄装置及びウェーハ収納容器の洗浄方法 2024年 4月 9日
特許 7464026 ボルト締結構造及びこれを用いたシリコン単結晶引上げ装置 2024年 4月 9日
特許 7464088 半導体ウェーハの両面研磨方法、研磨ウェーハの製造方法、及び半導体ウェーハの両面研磨装置 2024年 4月 9日
特許 7452403 ウェーハの研磨方法およびウェーハの製造方法 2024年 3月19日
特許 7452505 無欠陥単結晶シリコンの製造方法及び装置 2024年 3月19日
特許 7447784 誘導加熱コイル及びこれを用いた単結晶製造装置 2024年 3月12日
特許 7447786 シリコン試料の炭素濃度評価方法、シリコンウェーハ製造工程の評価方法、シリコンウェーハの製造方法およびシリコン単結晶インゴットの製造方法 2024年 3月12日
特許 7444050 両面研磨用キャリア及びウェーハの研磨方法 2024年 3月 6日
特許 7441469 外観検査装置 2024年 3月 1日
特許 7439723 シリコン単結晶の育成方法 2024年 2月28日

75 件中 46-60 件を表示

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7487659 7480699 7471575 7471576 7468339 7463982 7464026 7464088 7452403 7452505 7447784 7447786 7444050 7441469 7439723

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