信越半導体株式会社
※ ログインすれば出願人(信越半導体株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第459位 73件
（
2019年：第396位 96件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第364位 72件
（2019年：第322位 84件）
（ランキング更新日：2025年12月16日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
信越半導体株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6683277 | 半導体ウェーハの厚み測定方法及び半導体ウェーハの両面研磨装置 | 2020年 4月15日 | |
| 特許 6671640 | エピタキシャルウェーハの製造方法 | 2020年 3月25日 | |
| 特許 6665797 | シリコン単結晶育成方法、シリコン単結晶及びシリコン単結晶ウェーハ | 2020年 3月13日 | |
| 特許 6665798 | 単結晶製造方法及び単結晶製造装置 | 2020年 3月13日 | |
| 特許 6665827 | ウェーハの両面研磨方法 | 2020年 3月13日 | |
| 特許 6662250 | シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法及び半導体デバイスの製造方法 | 2020年 3月11日 | |
| 特許 6662330 | 単結晶シリコン中の炭素濃度測定方法 | 2020年 3月11日 | |
| 特許 6653750 | 半導体基体及び半導体装置 | 2020年 2月26日 | |
| 特許 6651134 | 半導体単結晶基板の結晶欠陥検出方法 | 2020年 2月19日 | |
| 特許 6652202 | 両面研磨装置用キャリア及び両面研磨装置並びに両面研磨方法 | 2020年 2月19日 | |
| 特許 6645376 | 直径制御装置及びＦＺ単結晶の直径測定方法 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6645408 | シリコン単結晶製造方法及びシリコン単結晶ウェーハ | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6645409 | シリコン単結晶製造方法 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6645488 | 半導体型蛍光体 | 2020年 2月14日 | |
| 特許 6645873 | 研磨用組成物 | 2020年 2月14日 |
75 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6683277 6671640 6665797 6665798 6665827 6662250 6662330 6653750 6651134 6652202 6645376 6645408 6645409 6645488 6645873
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。信越半導体株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ～スキルアップ編～ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く！ 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) - 神奈川 川崎市
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月22日(月) -
12月22日(月) -
12月23日(火) -
12月23日(火) -
12月23日(火) -
12月23日(火) -
12月23日(火) -
12月24日(水) -
12月24日(水) -
12月24日(水) -
12月25日(木) -
12月25日(木) -
12月22日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
愛知県日進市岩崎町野田３－１８ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒453-0012 愛知県名古屋市中村区井深町１番１号 新名古屋センタービル・本陣街２階 ２４３－１号室 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区新橋6-20-4 新橋パインビル5階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
