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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第540位 53件 (2023年:第386位 87件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第410位 70件 (2023年:第364位 86件)
(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2024-70722 | 高周波デバイス用基板およびその製造方法 | 2024年 5月23日 | |
特開 2024-69871 | 半導体エピタキシャル基板の製造方法、半導体エピタキシャル基板、及び半導体装置 | 2024年 5月22日 | |
特開 2024-70137 | エピタキシャル成長用シリコンウェーハ及びエピタキシャルウェーハ | 2024年 5月22日 | |
特開 2024-61997 | エピタキシャルウェーハの製造方法 | 2024年 5月 9日 | |
特開 2024-60665 | 窒化物半導体エピタキシャルウエーハの製造方法及び窒化物半導体エピタキシャルウエーハ用複合基板 | 2024年 5月 7日 | |
特開 2024-57491 | 接合型発光素子ウェーハの製造方法 | 2024年 4月24日 | |
特開 2024-50132 | マイクロLED特性評価用ウェーハ及びマイクロLED特性評価方法 | 2024年 4月10日 | |
特開 2024-49153 | エピタキシャル成長用サセプタ及びエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2024年 4月 9日 | |
特開 2024-42982 | 窒化物半導体層付き単結晶シリコン基板及び窒化物半導体層付き単結晶シリコン基板の製造方法 | 2024年 3月29日 | |
特開 2024-35650 | シリコン単結晶基板の酸化膜耐圧特性の評価方法及びシリコン単結晶基板の合否判定方法 | 2024年 3月14日 | |
特開 2024-34416 | シリコン基板の評価方法およびシリコン基板の製造工程の管理方法 | 2024年 3月13日 | |
特開 2024-29700 | 窒化物半導体基板及びその製造方法 | 2024年 3月 6日 | |
特開 2024-29034 | 接合型ウェーハの剥離方法 | 2024年 3月 5日 | |
特開 2024-25217 | マイクロLED用接合型ウェーハの製造方法 | 2024年 2月26日 | |
特開 2024-23112 | 量子コンピュータ用シリコン基板の製造方法、量子コンピュータ用シリコン基板及び半導体装置 | 2024年 2月21日 |
53 件中 31-45 件を表示
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2024-70722 2024-69871 2024-70137 2024-61997 2024-60665 2024-57491 2024-50132 2024-49153 2024-42982 2024-35650 2024-34416 2024-29700 2024-29034 2024-25217 2024-23112
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1月11日(土) -
1月11日(土) -
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1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月14日(火) - 東京 港区
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