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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7080264 | フォトリソグラフィマスク上の要素の位置を決定するための装置および方法 | 2022年 6月 3日 | |
特許 7079281 | 反射光学素子を製造する方法、反射光学素子および反射光学素子の使用 | 2022年 6月 1日 | |
特許 7077327 | 熱伝達を向上させた半導体リソグラフィ用の投影露光装置 | 2022年 5月30日 | |
特許 7071327 | EUV投影リソグラフィのための投影光学ユニット | 2022年 5月18日 | |
特許 7071436 | EUV投影リソグラフィのための照明光学系及び照明系 | 2022年 5月18日 | |
特許 7065131 | フォトリソグラフィマスクを修復するための装置および方法 | 2022年 5月11日 | |
特許 7063908 | マイクロリソグラフィのための投影露光方法および投影露光装置 | 2022年 5月 9日 | |
特許 7059262 | EUVリソグラフィ用ミラーアレイのコンポーネント | 2022年 4月25日 | |
特許 7055144 | 組立誤差を特定する方法 | 2022年 4月15日 | |
特許 7053925 | 光学面を研磨する方法及び光学素子 | 2022年 4月12日 | |
特許 7051261 | リソグラフィ装置のための位置決めシステム | 2022年 4月11日 | |
特許 7049357 | 5nm~20nmの波長域用の反射光学素子を補正する方法 | 2022年 4月 6日 | |
特許 7029469 | 走査型プローブ顕微鏡のための装置および方法 | 2022年 3月 3日 | |
特許 7023808 | EUV光学ユニットを有する計測システム | 2022年 2月22日 | |
特許 7018429 | EUVリソグラフィ用の反射光学素子 | 2022年 2月10日 |
36 件中 16-30 件を表示
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7080264 7079281 7077327 7071327 7071436 7065131 7063908 7059262 7055144 7053925 7051261 7049357 7029469 7023808 7018429
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