特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社ニューフレアテクノロジー

※ ログインすれば出願人(株式会社ニューフレアテクノロジー)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2021年出願公開件数ランキング　　　第595位　53件（2020年：第433位　79件）

　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第483位　50件（2020年：第402位　64件）

（ランキング更新日：2025年9月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6951083	マルチ荷電粒子ビーム描画方法およびマルチ荷電粒子ビーム描画装置	2021年10月20日
特許 6951123	荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2021年10月20日
特許 6951174	電子ビーム装置及び電子ビームの位置ずれ補正方法	2021年10月20日
特許 6951922	荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビームの位置ずれ補正方法	2021年10月20日
特許 6937125	ステージ機構の位置補正方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2021年 9月22日
特許 6938397	検査装置および検査方法	2021年 9月22日
特許 6934742	マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法	2021年 9月15日
特許 6927728	電子ビーム照射装置及び電子ビームのダイナミックフォーカス調整方法	2021年 9月 1日
特許 6930431	アパーチャのアライメント方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置	2021年 9月 1日
特許 6930906	カソード形成方法	2021年 9月 1日
特許 6917208	偏光イメージ取得装置、パターン検査装置、偏光イメージ取得方法、及びパターン検査方法	2021年 8月11日
特許 6899705	気相成長装置及び気相成長方法	2021年 7月 7日
特許 6893842	パターン検査方法およびパターン検査装置	2021年 6月23日
特許 6883478	半導体装置	2021年 6月 9日
特許 6884059	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2021年 6月 9日

51 件中 16-30 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6951083 6951123 6951174 6951922 6937125 6938397 6934742 6927728 6930431 6930906 6917208 6899705 6893842 6883478 6884059

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニューフレアテクノロジーの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数