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カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー

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  2024年 出願公開件数ランキング    第485位 63件 上昇2023年:第628位 47件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第517位 51件 上昇2023年:第631位 40件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7561188 製造方法及び測定方法 2024年10月 3日
特許 7558378 フォトリソグラフィマスクのパターン要素の側壁角を設定するための方法および装置 2024年 9月30日
特許 7548931 測定又は検査装置及び表面を測定又は検査する方法 2024年 9月10日
特許 7546001 改善された3Dボリューム像再構成精度を有する断面イメージング 2024年 9月 5日
特許 7546005 第1コンポーネントと第2コンポーネントとを接着結合する方法及び装置 2024年 9月 5日
特許 7546153 試料を粒子線で分析および/または処理するための装置および方法 2024年 9月 5日
特許 7544957 少なくとも1つの軸に沿って変位可能であり、かつ少なくとも1つの軸を中心に回転可能である試料ステージ上のフォトマスクのアライメントを決定するための方法および装置 2024年 9月 3日
特許 7535568 マイクロツーリングデバイスの自動化された動作制御 2024年 8月16日
特許 7535577 構造化物体の表面にわたる測定光波長の測定光の光学的位相差を決定するための方法 2024年 8月16日
特許 7535667 特にマイクロリソグラフィ用の光学系を調整する方法 2024年 8月16日
特許 7526192 光学素子の支持 2024年 7月31日
特許 7520837 VUV放射線を反射する光学素子及び光学装置 2024年 7月23日
特許 7511751 マイクロリソグラフィ用適応光学素子 2024年 7月 5日
特許 7511001 計測デバイスを較正する方法 2024年 7月 4日
特許 7511024 EUVリソグラフィ用マスクを検査するためのシステムおよび方法 2024年 7月 4日

51 件中 16-30 件を表示

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7561188 7558378 7548931 7546001 7546005 7546153 7544957 7535568 7535577 7535667 7526192 7520837 7511751 7511001 7511024

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