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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第220位 162件 (2023年:第242位 151件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第257位 124件 (2023年:第238位 146件)
(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2024-510161 | 中空コアフォトニック結晶ファイバベースの多波長光源デバイス | 2024年 3月 6日 | |
特開 2024-28581 | 複数の荷電粒子ビームを使用する装置 | 2024年 3月 4日 | |
特表 2024-509518 | 中空コア光ファイバベースの放射源 | 2024年 3月 4日 | |
特表 2024-508647 | リソグラフィ装置及び方法のためのペリクルメンブレン | 2024年 2月28日 | |
特表 2024-508654 | 投影システムの収差を予測する方法およびシステム | 2024年 2月28日 | |
特表 2024-508371 | リソグラフィ露光装置の一または複数のアクチュエータについてのフォーカス駆動プロファイルを決定するための方法 | 2024年 2月27日 | |
特表 2024-508323 | 基板拘束システム | 2024年 2月26日 | |
特表 2024-507079 | リソグラフィ装置のための新しいインターフェイス定義 | 2024年 2月16日 | |
特表 2024-506526 | 汚染物質検出のシステム及び方法 | 2024年 2月14日 | |
特開 2024-16096 | 位置決め及びクランプ硬化のための装置 | 2024年 2月 6日 | |
特開 2024-15175 | コンピュータによる計測 | 2024年 2月 1日 | |
特開 2024-15210 | 応力低減のための金属ケイ化物窒化 | 2024年 2月 1日 | |
特表 2024-503973 | ウェーハ検査用の合成欠陥画像を生成するための機械学習ベースのシステム及び方法 | 2024年 1月30日 | |
特表 2024-503057 | 干渉計システム、ポジショニングシステム、リソグラフィ装置、ジッタ判定方法、デバイス製造方法 | 2024年 1月24日 | |
特表 2024-502741 | 計測装置及び計測方法 | 2024年 1月23日 |
164 件中 136-150 件を表示
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2024-510161 2024-28581 2024-509518 2024-508647 2024-508654 2024-508371 2024-508323 2024-507079 2024-506526 2024-16096 2024-15175 2024-15210 2024-503973 2024-503057 2024-502741
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1月9日(木) -
1月10日(金) -
1月11日(土) -
1月11日(土) -
1月9日(木) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月18日(土) -
1月14日(火) - 東京 港区
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