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エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．

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　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第220位　162件（2023年：第242位　151件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第257位　124件（2023年：第238位　146件）

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エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2024-525947	システムおよび光デリバリを分配するための方法	2024年 7月12日
特開 2024-91652	放射源、リソグラフィシステム及び検査システム	2024年 7月 5日
特表 2024-523806	荷電粒子装置及び方法	2024年 7月 2日
特表 2024-523820	電極歪の影響を補償する方法、評価システム	2024年 7月 2日
特表 2024-523874	レチクルのための冷却フード	2024年 7月 2日
特表 2024-523579	半導体製造に関連する変動源をデカップリングするための方法	2024年 6月28日
特開 2024-85420	マルチステッププロセス検査方法	2024年 6月26日
特開 2024-84743	荷電粒子装置用の交換可能モジュール	2024年 6月25日
特開 2024-83433	薄膜アセンブリを製造する方法	2024年 6月21日
特表 2024-522605	検査データフィルタリングのシステム及び方法	2024年 6月21日
特開 2024-79710	マルチビームＳＥＭツール用の自己参照型健全度監視システム	2024年 6月11日
特開 2024-79725	荷電粒子検査ツール、検査方法	2024年 6月11日
特表 2024-522053	データ処理デバイス及び方法、荷電粒子評価システム及び方法	2024年 6月11日
特表 2024-521551	モジュール式ウェーハテーブル及びその製造方法	2024年 6月 3日
特表 2024-521436	アパーチャアポダイゼーションを備えた構造照明を使用したレチクル粒子検出用の検査システム	2024年 5月31日

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2024-525947 2024-91652 2024-523806 2024-523820 2024-523874 2024-523579 2024-85420 2024-84743 2024-83433 2024-522605 2024-79710 2024-79725 2024-522053 2024-521551 2024-521436

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