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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第27位 725件 (2023年:第31位 722件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第25位 802件 (2023年:第32位 762件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2024-150767 | 基板処理方法及び基板処理システム | 2024年10月23日 | |
特表 2024-538741 | 無線周波数(RF)源及びバイアス信号波形を用いたプラズマ処理 | 2024年10月23日 | |
特開 2024-148358 | 接合方法及び接合システム | 2024年10月18日 | |
特開 2024-148872 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2024年10月18日 | |
特開 2024-149054 | 処理方法及び処理システム | 2024年10月18日 | |
特開 2024-149563 | 基板加工装置及び基板加工方法 | 2024年10月18日 | |
特開 2024-149565 | 基板加工装置及び基板加工方法 | 2024年10月18日 | |
特開 2024-149708 | 基板保持体、基板搬送装置及び基板保持体の製造方法 | 2024年10月18日 | |
特開 2024-147868 | プラズマ処理装置 | 2024年10月17日 | |
特開 2024-147876 | プラズマ処理装置 | 2024年10月17日 | |
特開 2024-147887 | 接合装置および接合方法 | 2024年10月17日 | |
特開 2024-147890 | プラズマ処理装置およびプラズマ制御方法 | 2024年10月17日 | |
特開 2024-147719 | 液処理装置及び洗浄方法 | 2024年10月16日 | |
特表 2024-537695 | フィンガープリントに基づく半導体製造プロセス欠陥検出を使用する方法及びプロセス | 2024年10月16日 | |
特開 2024-145125 | 成膜方法および成膜装置 | 2024年10月15日 |
730 件中 106-120 件を表示
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2024-150767 2024-538741 2024-148358 2024-148872 2024-149054 2024-149563 2024-149565 2024-149708 2024-147868 2024-147876 2024-147887 2024-147890 2024-147719 2024-537695 2024-145125
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1月9日(木) -
1月10日(金) -
1月11日(土) -
1月11日(土) -
1月9日(木) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月18日(土) -
1月14日(火) - 東京 港区
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