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株式会社ニューフレアテクノロジー

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  2024年 出願公開件数ランキング    第630位 43件 下降2023年:第609位 49件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第431位 65件 上昇2023年:第509位 54件)

(ランキング更新日:2025年1月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2024-43072 検査装置、方法およびプログラム 2024年 3月29日
特開 2024-30513 ビーム検出器、マルチ荷電粒子ビーム照射装置、及びビーム検出器の調整方法 2024年 3月 7日
特開 2024-19878 検査装置、検査方法およびプログラム 2024年 2月14日
特開 2024-17276 成膜装置 2024年 2月 8日
特開 2024-17283 気相成長装置 2024年 2月 8日
特開 2024-17671 マルチビーム画像取得装置及びマルチビーム画像取得方法 2024年 2月 8日
特開 2024-16068 EUVマスクのパターン検査装置及びEUVマスクのパターン検査方法 2024年 2月 6日
特開 2024-13523 検査装置及び検査画像の生成方法 2024年 2月 1日
特開 2024-12973 ブランキングアパーチャアレイシステム及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 2024年 1月31日
特開 2024-8279 マルチ荷電粒子ビーム照射装置、マルチ荷電粒子ビーム照射方法およびブランキングアパーチャアレイ実装基板の交換方法 2024年 1月19日
特開 2024-8831 実装基板、ブランキングアパーチャアレイチップ、ブランキングアパーチャアレイシステム及びマルチ荷電粒子ビーム照射装置 2024年 1月19日
特開 2024-8871 マルチ電子ビーム画像取得装置、マルチ電子ビーム画像取得方法、電子ビーム画像取得装置、及び電子ビーム画像取得方法 2024年 1月19日
特開 2024-7428 マルチビーム画像取得装置及びマルチビーム画像取得方法 2024年 1月18日
特開 2024-4285 マルチ荷電粒子ビーム描画方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 2024年 1月16日
特開 2024-1695 基板処理装置 2024年 1月10日

45 件中 31-45 件を表示

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2024-43072 2024-30513 2024-19878 2024-17276 2024-17283 2024-17671 2024-16068 2024-13523 2024-12973 2024-8279 2024-8831 2024-8871 2024-7428 2024-4285 2024-1695

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