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株式会社ニューフレアテクノロジー

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　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第630位　43件（2023年：第609位　49件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第431位　65件（2023年：第509位　54件）

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-119099	検査装置の焦点位置調整方法及びパターン検査装置	2024年 9月 3日
特開 2024-119373	情報収集基板、基板処理装置、電子ビーム描画装置および電子ビーム描画装置の基板処理方法	2024年 9月 3日
特開 2024-102645	光軸制御機構、パターン検査装置、及び光軸調整方法	2024年 7月31日
特開 2024-93914	検査装置及び検査画像の生成方法	2024年 7月 9日
特開 2024-89039	電子線マスク検査装置	2024年 7月 3日
特開 2024-83066	位置計測装置、荷電粒子ビーム描画装置、及びマーク位置計測方法	2024年 6月20日
特開 2024-80072	ブランキングアパーチャアレイシステム及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置	2024年 6月13日
特開 2024-80100	ヒータ寿命予測方法、加熱処理装置およびヒータ寿命予測プログラム	2024年 6月13日
特開 2024-75811	マルチ荷電粒子ビーム描画装置およびマルチ荷電粒子ビームの測定方法	2024年 6月 5日
特開 2024-75409	検査装置	2024年 6月 3日
特開 2024-70592	電子線照射装置	2024年 5月23日
特開 2024-70593	電子線照射装置	2024年 5月23日
特開 2024-62183	ビーム検出器、マルチ荷電粒子ビーム照射装置、及びビーム検出器の調整方法	2024年 5月 9日
特開 2024-44000	荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法及び位相差板の調整方法	2024年 4月 2日
特開 2024-44936	マルチ電子ビームの調整方法及びマルチ電子ビーム検査装置	2024年 4月 2日

45 件中 16-30 件を表示

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2024-119099 2024-119373 2024-102645 2024-93914 2024-89039 2024-83066 2024-80072 2024-80100 2024-75811 2024-75409 2024-70592 2024-70593 2024-62183 2024-44000 2024-44936

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