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株式会社ニューフレアテクノロジー
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第609位 49件
（
2022年：第572位 53件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第509位 54件
（2022年：第398位 74件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7344725 | アライメントマーク位置の検出方法及びアライメントマーク位置の検出装置 | 2023年 9月14日 | |
| 特許 7342696 | 電子ビーム検査装置 | 2023年 9月12日 | |
| 特許 7336915 | 真空装置 | 2023年 9月 1日 | |
| 特許 7333277 | パターン検査装置の故障診断方法及びパターン検査装置 | 2023年 8月24日 | |
| 特許 7326480 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2023年 8月15日 | |
| 特許 7325260 | 真空装置 | 2023年 8月14日 | |
| 特許 7322733 | 荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画用プログラム | 2023年 8月 8日 | |
| 特許 7318824 | ウィーンフィルタ及びマルチ電子ビーム検査装置 | 2023年 8月 1日 | |
| 特許 7316106 | 収差補正器及びマルチ電子ビーム照射装置 | 2023年 7月27日 | |
| 特許 7316127 | マルチビーム描画方法及びマルチビーム描画装置 | 2023年 7月27日 | |
| 特許 7310466 | マルチ荷電粒子ビーム評価方法 | 2023年 7月19日 | |
| 特許 7303052 | 多極子収差補正器の導通検査方法及び多極子収差補正器の導通検査装置 | 2023年 7月 4日 | |
| 特許 7296274 | 描画装置および偏向器 | 2023年 6月22日 | |
| 特許 7296523 | 成膜装置およびプレート | 2023年 6月22日 | |
| 特許 7292968 | 荷電粒子ビーム装置 | 2023年 6月19日 |
55 件中 16-30 件を表示
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7344725 7342696 7336915 7333277 7326480 7325260 7322733 7318824 7316106 7316127 7310466 7303052 7296274 7296523 7292968
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