信越半導体株式会社
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（
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■ 2022年 特許取得件数ランキング 第392位 75件
（
2021年：第359位 73件）
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信越半導体株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7052912 | 単結晶引上げ装置 | 2022年 4月12日 | |
| 特許 7047803 | 単結晶引上げ装置 | 2022年 4月 5日 | |
| 特許 7036085 | シリコンウェーハのエッチング方法 | 2022年 3月15日 | |
| 特許 7028353 | シリコンウェーハの製造方法 | 2022年 3月 2日 | |
| 特許 7020286 | インゴットの切断方法及びワイヤーソー | 2022年 2月16日 | |
| 特許 7020437 | シリコン単結晶の製造方法 | 2022年 2月16日 | |
| 特許 7020454 | ワークの切断方法及びワイヤソー | 2022年 2月16日 | |
| 特許 7020507 | 半導体ウェーハの洗浄方法 | 2022年 2月16日 | |
| 特許 7006517 | シリコン単結晶基板中の欠陥密度の制御方法 | 2022年 1月24日 | |
| 特許 7003942 | ウェーハの評価方法 | 2022年 1月21日 | |
| 特許 7004221 | シリコンウェーハのエッチング方法、エッチング装置及び不純物分析方法 | 2022年 1月21日 | |
| 特許 6996425 | 原料結晶棒の固定方法、半導体単結晶の製造方法及び原料結晶棒用包装材 | 2022年 1月17日 | |
| 特許 6996475 | ウェーハ収納容器の洗浄方法およびその洗浄装置 | 2022年 1月17日 | |
| 特許 6996477 | 単結晶の製造方法 | 2022年 1月17日 | |
| 特許 6988761 | 半導体シリコンウェーハの洗浄処理装置および洗浄方法 | 2022年 1月 5日 |
75 件中 61-75 件を表示
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7052912 7047803 7036085 7028353 7020286 7020437 7020454 7020507 7006517 7003942 7004221 6996425 6996475 6996477 6988761
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