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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第630位 43件
(2023年:第609位 49件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第431位 65件
(2023年:第509位 54件)
(ランキング更新日:2025年9月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7458817 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2024年 4月 1日 | |
特許 7459007 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2024年 4月 1日 | |
特許 7459380 | マルチ電子ビーム画像取得装置及びマルチ電子ビーム画像取得方法 | 2024年 4月 1日 | |
特許 7455720 | マルチ荷電粒子ビーム照射装置およびマルチ荷電粒子ビーム照射方法 | 2024年 3月26日 | |
特許 7446940 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2024年 3月11日 | |
特許 7445575 | パターン検査方法およびパターン検査装置 | 2024年 3月 7日 | |
特許 7443268 | 欠陥検査方法 | 2024年 3月 5日 | |
特許 7442299 | 電子銃、電子放出装置、及び電子銃の製造方法 | 2024年 3月 4日 | |
特許 7442375 | マルチ電子ビーム検査装置及びマルチ電子ビーム検査方法 | 2024年 3月 4日 | |
特許 7442376 | マルチ電子ビーム検査装置及びマルチ電子ビーム検査方法 | 2024年 3月 4日 | |
特許 7440354 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2024年 2月28日 | |
特許 7440660 | 気相成長装置 | 2024年 2月28日 | |
特許 7440666 | 気相成長装置及び気相成長方法 | 2024年 2月28日 | |
特許 7429128 | マルチ電子ビーム照射装置及びマルチ電子ビーム照射方法 | 2024年 2月 7日 | |
特許 7421364 | マルチビーム描画方法及びマルチビーム描画装置 | 2024年 1月24日 |
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7458817 7459007 7459380 7455720 7446940 7445575 7443268 7442299 7442375 7442376 7440354 7440660 7440666 7429128 7421364
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9月12日(金) -
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