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株式会社ニューフレアテクノロジー

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7561729	電子線描画装置及びカソード寿命予測方法	2024年10月 4日
特許 7554100	電子放出源の動作制御方法、電子ビーム描画方法、及び電子ビーム描画装置	2024年 9月19日
特許 7552192	データ生成方法、荷電粒子ビーム照射装置及びプログラム	2024年 9月18日
特許 7548862	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2024年 9月10日
特許 7547082	パターン検査装置及びパターン検査方法	2024年 9月 9日
特許 7547138	電子ビーム検査装置及び電子ビーム検査方法	2024年 9月 9日
特許 7547179	電子ビーム検査装置及び電子ビーム検査方法	2024年 9月 9日
特許 7547227	マルチビーム画像取得装置及びマルチビーム画像取得方法	2024年 9月 9日
特許 7547685	マルチ荷電粒子ビーム描画領域の実効温度算出方法、マルチ荷電粒子ビーム描画方法、プログラムを一時的で無く記録した読み取り可能な記録媒体、及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置	2024年 9月 9日
特許 7538240	マルチ荷電粒子ビーム描画装置、マルチ荷電粒子ビーム描画方法、及びプログラムを記録した読み取り可能な記録媒体	2024年 8月21日
特許 7532225	荷電粒子ビーム検査装置及び荷電粒子ビーム検査方法	2024年 8月13日
特許 7524730	セトリング時間決定方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法	2024年 7月30日
特許 7525251	ＴＤＩ（時間遅延積分）センサの感度変動の判定方法、パターン検査方法、及びパターン検査装置	2024年 7月30日
特許 7525387	収差補正器	2024年 7月30日
特許 7525746	マルチ電子ビーム画像取得装置及びマルチ電子ビーム画像取得方法	2024年 7月30日

66 件中 16-30 件を表示

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7561729 7554100 7552192 7548862 7547082 7547138 7547179 7547227 7547685 7538240 7532225 7524730 7525251 7525387 7525746

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