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アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド

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  2024年 出願公開件数ランキング    第41位 605件 下降2023年:第32位 708件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第47位 555件 上昇2023年:第80位 398件)

(ランキング更新日:2025年1月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2024-170437 イオン注入システム及び新規な加速器段構成を有する線形加速器 2024年12月10日
特表 2024-545641 改良型ピラニ真空計アーキテクチャを使用してラジカルイオンフラックスを測定するための方法 2024年12月10日
特表 2024-545643 環状運動が強化されたイオン源 2024年12月10日
特表 2024-544815 製造システムにおけるマルチレベルRFパルス監視およびRFパルス化パラメータ最適化 2024年12月 5日
特表 2024-544816 半導体製造のための環境効率監視・探査プラットフォーム 2024年12月 5日
特表 2024-545071 プラズマ処理中に複数の波形信号を供給するための装置及び方法 2024年12月 5日
特表 2024-545077 イオン注入用の静電クランププラテンを有する回転ディスク 2024年12月 5日
特表 2024-545160 テクスチャのある誘電体を使用したウエハからベースプレートへのアーク放電の防止 2024年12月 5日
特開 2024-167175 エネルギー拡散イオンビームのための装置、システム、及び方法 2024年12月 3日
特開 2024-167188 半導体処理システム用の分配構成要素 2024年12月 3日
特表 2024-544467 エピタキシャル堆積リアクタのための動的で局部化された温度制御 2024年12月 3日
特表 2024-544596 ベーキング後に基板を冷却するチャンバおよび方法 2024年12月 3日
特表 2024-544219 モデルトレーニングに使用可能な走査ラジカルセンサ 2024年11月28日
特開 2024-163993 プラズマ処理用途のためのパルス電圧源 2024年11月26日
特開 2024-164008 製造プロセス性能を向上させるための統合された基板測定システム 2024年11月26日

606 件中 16-30 件を表示

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2024-170437 2024-545641 2024-545643 2024-544815 2024-544816 2024-545071 2024-545077 2024-545160 2024-167175 2024-167188 2024-544467 2024-544596 2024-544219 2024-163993 2024-164008

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