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カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー

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カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-150524	ＶＵＶ放射線を反射する光学素子及び光学装置	2024年10月23日
特表 2024-538115	ＥＵＶマルチミラー装置	2024年10月18日
特開 2024-147572	マイクロリソグラフィフォトマスクの欠陥の粒子ビーム誘起処理のための方法	2024年10月16日
特表 2024-537351	試料を測定するための方法および本方法を実施する顕微鏡	2024年10月10日
特表 2024-535801	冷却流路を有する光学素子、及び光学装置	2024年10月 2日
特表 2024-534800	Ｘ線照射された物体を結像する（ｉｍａｇｅ）結像光学機構	2024年 9月26日
特表 2024-535045	ＤＵＶリソグラフィシステム	2024年 9月26日
特開 2024-127861	測定チャンバにおける配置のためのセンサー構成体、マスクを適切なものにするための装置、およびマスクを適切なものにするための方法	2024年 9月20日
特表 2024-533994	マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明装置で特に用いる光学コンポーネント群	2024年 9月18日
特開 2024-125209	ペルチェモジュール、アセンブリ、マスク検査用の装置	2024年 9月13日
特開 2024-125210	フォトマスクを検査するための方法ならびに測定デバイスおよびＥＵＶカメラ	2024年 9月13日
特表 2024-531989	集束粒子ビームを使用してサンプルの欠陥を修復するための方法および装置	2024年 9月 3日
特開 2024-112778	測定装置、マスク計測測定装置を動作させるための方法、およびコンピュータプログラム製品	2024年 8月21日
特表 2024-530453	リソグラフィマスクのために用いられる蒸着材料の光学特性を決定するための方法および装置	2024年 8月21日
特表 2024-530044	粒子ビームを用いてサンプルを分析および／または処理するための装置および方法	2024年 8月14日

63 件中 16-30 件を表示

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2024-150524 2024-538115 2024-147572 2024-537351 2024-535801 2024-534800 2024-535045 2024-127861 2024-533994 2024-125209 2024-125210 2024-531989 2024-112778 2024-530453 2024-530044

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